TY  - JOUR
AU  - Eric Windsor
AU  - Bruce Benner Jr.
AU  - Robert A. Fletcher
AU  - J Greg Gillen
AU  - R Lareau
AU  - Inho Cho
AU  - Mike Boldmand
C2  - Microscopy and Microanalysis
DA  - 2008-10-16 14:10:10
LA  - en
PB  - Microscopy and Microanalysis
PY  - 2008
TI  - Trace Explosive Detection Standards Using Drop-on-Demand Inkjet Printing Technology
ER  -