TY  - JOUR
AU  - Conley, J.
AU  - Suehle, John
AU  - Johnston, A.
AU  - Wang, Bin
AU  - Miyahara, T
AU  - Vogel, Eric
AU  - Bernstein, J
C2  - IEEE Trans. on Nuclear Science
DA  - 2001-12-01 00:12:00
LA  - en
M1  - 48
PB  - IEEE Trans. on Nuclear Science
PY  - 2001
TI  - Heavy Ion Induced Soft Breakdown of Thin Gate Oxides
ER  -