TY  - JOUR
AU  - J. Conley
AU  - John Suehle
AU  - A. Johnston
AU  - Bin Wang
AU  - T Miyahara
AU  - Eric Vogel
AU  - J Bernstein
C2  - IEEE Trans. on Nuclear Science
DA  - 2001-12-01 00:12:00
LA  - en
M1  - 48
PB  - IEEE Trans. on Nuclear Science
PY  - 2001
TI  - Heavy Ion Induced Soft Breakdown of Thin Gate Oxides
ER  -