TY  - JOUR
AU  - John Suehle
AU  - Bin Wang
AU  - J. Conley
AU  - Eric Vogel
AU  - Peter Roitman
AU  - C Weintraub
AU  - A. Johnston
AU  - J Bernstein
C2  - Applied Physics Letters
DA  - 2002-02-18 00:02:00
LA  - en
M1  - 80
PB  - Applied Physics Letters
PY  - 2002
TI  - Observation of Latent Reliability Degradation in Ultra-Thin Oxides after Heavy-Ion Irradiation
ER  -