TY  - JOUR
AU  - Suehle, John
AU  - Wang, Bin
AU  - Conley, J.
AU  - Vogel, Eric
AU  - Roitman, Peter
AU  - Weintraub, C
AU  - Johnston, A.
AU  - Bernstein, J
C2  - Applied Physics Letters
DA  - 2002-02-18 00:02:00
LA  - en
M1  - 80
PB  - Applied Physics Letters
PY  - 2002
TI  - Observation of Latent Reliability Degradation in Ultra-Thin Oxides after Heavy-Ion Irradiation
ER  -