TY  - JOUR
AU  - Vaz, C
AU  - Blackburn, E
AU  - Klaui, M
AU  - Bland, J
AU  - Gan, L
AU  - Jr., William Egelhoff
AU  - Cambril, E
AU  - Faini, G
AU  - Wernsdorfer, W
C2  - Journal of Applied Physics
DA  - 2003-05-01 00:05:00
LA  - en
M1  - 93
PB  - Journal of Applied Physics
PY  - 2003
TI  - Magnetoresistance Magnetometry of (Ni<sub>80</sub>Fe<sub>20</sub>)<sub>1-x</sub>Ir<sub>x</sub> Wires with Varying Anisotropic Magnetoresistance Ratio
ER  -