TY - JOUR AU - Quentin Smets AU - Anne Verhulst AU - Eddy Simoen AU - David Gundlach AU - Curt Richter AU - Nadine Collaert AU - Marc Heyns C2 - IEEE Electron Device Letters DA - 2017-09-01 00:09:00 DO - https://doi.org/10.1109/TED.2017.2724144 LA - en M1 - 64 PB - IEEE Electron Device Letters PY - 2017 TI - Calibration and impact of bulk trap-assisted tunneling and Shockley-Read-Hall currents in InGaAs tunnel-FETs ER -