TY  - JOUR
AU  - S Witczak
AU  - R Schrimpf
AU  - D Fleetwood
AU  - K Galloway
AU  - R Lacoe
AU  - D Mayer
AU  - James Puhl
AU  - R Pease
AU  - John Suehle
C2  - IEEE Transactions on Nuclear Science
DA  - 1997-01-01 00:01:00
LA  - en
M1  - 44
PB  - IEEE Transactions on Nuclear Science
PY  - 1997
TI  - Hardness Assurance Testing of Bipolar Junction Transistors at Elevated Irradiation Temperatures
ER  -