TY  - JOUR
AU  - Daniel Josell
AU  - C Burkhard
AU  - David Kelley
AU  - Yi-Wen Cheng
AU  - R Keller
AU  - John Bonevich
AU  - Y Li
AU  - B Baker
AU  - C Witt
AU  - Thomas Moffat
C2  - Journal of Applied Physics
DA  - 2004-07-01 00:07:00
LA  - en
M1  - 96
PB  - Journal of Applied Physics
PY  - 2004
TI  - Electrical Properties of Superfilled Sub-Micrometer Silver Metallizations
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=853319
ER  -