TY  - CONF
AU  - H. Huff
AU  - Curt Richter
AU  - M. Green
AU  - G. Lucovsky
AU  - T. Hattori
C2  - Proc., Mater. Res. Soc. Symp. , Pittsburgh, PA, USA
DA  - 1999-09-01 00:09:00
LA  - en
PB  - Proc., Mater. Res. Soc. Symp. , Pittsburgh, PA, USA
PY  - 1999
TI  - Ultrathin SiO<sub>2</sub> and High-K Materials for ULSI Gate Dielectrics
ER  -