TY  - JOUR
AU  - Pavel Kabos
AU  - Thomas Wallis
AU  - H Hubner
AU  - I. Humer
AU  - M. Hochleitner
AU  - M. Fenner
AU  - M. Moertelmaier
AU  - C. Rankl
AU  - Atif Imtiaz
AU  - H. Tanbakuchi
AU  - P. Hinterdorfer
AU  - J. Smoliner
AU  - Joseph Kopanski
AU  - F. Kienberger
C2  - Review of Scientific Instruments
DA  - 2012-01-03
LA  - en
M1  - 111
PB  - Review of Scientific Instruments
PY  - 2012
TI  - Calibrated nanoscale dopant profiling using a scanning microwave microscope.
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=908761
ER  -