TY  - CONF
AU  - Michael Postek
AU  - Andras Vladar
AU  - William Keery
AU  - Michael Bishop
AU  - Benjamin Bunday
AU  - John Allgair
C2  - Proceedings of SPIE, Monterey, CA
DA  - 2010-08-19
LA  - en
M1  - 7729
PB  - Proceedings of SPIE, Monterey, CA
PY  - 2010
TI  - NEW Scanning Electron Microscope Magnification Calibration Reference Material (RM) 8820
ER  -