TY - JOUR AU - Zakariae Chbili AU - Asahiko Matsuda AU - Jaafar Chbili AU - Jason Ryan AU - Jason Campbell AU - Mhamed Lahbabi AU - D. Ioannou AU - Kin Cheung C2 - IEEE Transactions on Electron Devices DA - 2016-07-14 LA - en PB - IEEE Transactions on Electron Devices PY - 2016 TI - Modeling early breakdown failures of gate oxide in SiC power MOSFETs ER -