TY  - JOUR
AU  - Zachary Levine
AU  - A Kalukin
AU  - M Kuhn
AU  - S Frigo
AU  - I McNulty
AU  - C Retsch
AU  - Y Wang
AU  - Uwe Arp
AU  - Thomas Lucatorto
AU  - Bruce Ravel
AU  - Charles Tarrio
C2  - Journal of Applied Physics
DA  - 2000-05-01
LA  - en
M1  - 87
PB  - Journal of Applied Physics
PY  - 2000
TI  - Tomography of Integrated Circuit Interconnect With an Electromigration Void
ER  -