TY  - JOUR
AU  - Rigosi, Albert
AU  - Scherer, Hansjorg
AU  - Taupin, Mathieu
AU  - Callegaro, Luca
AU  - He, Hans
AU  - Kumar, Susmit
AU  - Eichenberger, Ali
AU  - Kruskopf, Mattias
AU  - Yang, Yanfei
AU  - Marzano, Martina
AU  - Giblin, Stephen
AU  - Rozhko, Sergiy
AU  - Oe, Takehiko
AU  - Chae, Dong-Hun
AU  - Gournay, Pierre
C2  - Metrologia
DA  - 2026-06-02 04:06:00
LA  - en
PB  - Metrologia
PY  - 2026
TI  - Companion Guide to the Revised Technical Guidelines for Reliable dc Measurements of the Quantized Hall Resistance for Graphene-Based Devices
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=961514
ER  -